SSEF 推出 GemTrack™ 服務

GemTrack™ 應用寶石學技術將刻面寶石與其原石串連起來

GemTrack™ 結合晶體學、結構學、化學成份和顯微分析為基礎，對寶石原石獨一無二的特性和指紋特徵進行詳細記錄。隨後這些特徵將與切磨後的寶石進行比對，從而記錄車工和打磨的一連串過程。 GemTrack™ 呈現特定寶石其原石和刻面狀態的數據，僅作為SSEF出具刻面寶石鑑定證書時的附加文件，GemTrack™ 文件亦能以寶石隨至鑲嵌為珠寶成品的形式發行，以利記錄寶石從原石到珠寶的連貫記錄。

GemTrack™ 文件聲明哪些內容？

GemTrack™ 文件提供專家的科學意見，繫起原石到刻面寶石的環節，從而以科技寶石學記錄礦源到市場的部份歷程。但是文件中並不會出示產地來源中任何特別的礦脈。只有當客戶出具可靠文件，例如，公開透明的原石拍賣銷售憑證等證明時，GemTrack™ 根據提供的資料才得以提及特定公司名稱或者拍賣會，以陳述寶石的產銷履歷。

相關程序，價格和進一步信息，請至 www.ssef.ch/gemtrack，或者聯繫我們。